1、MPD晶圓測試
測試設備：脈沖造(zao)成的源表P300+測試探針臺
異常現象：測試(shi)中(zhong)存在(zai)一個3nA左右的漏電(dian)流
異常原因：測(ce)試(shi)現場(chang)的(de)(de)(de)連接線屏蔽層接地不達標，外(wai)界電(dian)磁環境的(de)(de)(de)作用(yong)下使設(she)備對大地的(de)(de)(de)電(dian)位發生變(bian)化(hua)，造成設(she)備工作不穩定 優化措施：將屏蔽層接地 2、三極管測試 測試設備：2臺直流電源(yuan)源(yuan)表S300+測(ce)試(shi)探針(zhen)臺 異常現象：源表(biao)輸出0-3V的電(dian)壓(ya)掃描(miao)，當輸出的電(dian)壓(ya)小于0.5V時，源表(biao)回讀的電(dian)壓(ya)值為(wei)-0.5V 異常的理由：電(dian)極臺不能一(yi)定(ding)接地，電(dian)極臺組成上(shang)產(chan)生鋁(lv)合(he)金，在通電(dian)的(de)(de)的(de)(de)區域中會產(chan)生靜電(dian)反(fan)應，可以對各種測(ce)試最終引來后果 系統優化政策：將測試(shi)探針臺(tai)完成輸電線應用(yong)山河(he) 3、芯片測試 測試設備：交流電源表S300+電極臺 異常現象：源表(biao)未輸送(song)，測試探針(zhen)冒火(huo)苗
圖：出錯測式-檢測器冒火苗(miao)
異常原因：三同水平線纜GUARD走勢沒有支撐。GUARD走勢如拼接科學合理，其電勢與走勢層通常同一，于是漏電小，因而對走勢起到了沒事定的庇護的功效；可GUARD走勢沒有支撐，其與走勢層的電勢差極大，這種漏電極大，對走勢的干擾巨大 優化措施：將GUARD4g走勢應(ying)用(yong)源表，使GUARD4g走勢起到(dao)了自我保(bao)護效用(yong)
4、PD測試
測試設備：直流源表S300+探針臺
異常現象：源(yuan)表在100nA的量程下，輸出-2V電壓，實際顯示-2.69V
圖：十分試驗效果
異常原因：客戶使用的同(tong)軸線接觸不良，探針臺沒有接地 優化措施：更換新的同軸(zhou)線，將探針臺(tai)通(tong)過導線接入大地 圖：系統優化后測試測試結(jie)果顯示
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