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認準于半導體芯片電安全性能試驗

PL系列窄脈沖電流源測試原理及LIV測試框圖

原因:admin 時期:2020-10-09 09:52 閱覽量:2884

普賽斯PL 一系(xi)列窄脈沖信號電壓源可利用于 VCSEL 還有其它須要窄輸入脈沖獎勵(li)激勵(li)的測(ce)試英(ying)文(wen)情(qing)景。

PL 全系列機(ji)械設備有3個路通道:

① 、恒流(liu)脈沖(chong)激光(guang)鼓(gu)勁源,并(bing)能同(tong)時進行(xing)估(gu)測待測元器件的兩端直流(liu)電壓;

② 、智(zhi)(zhi)能激光(guang)電(dian)流量在(zai)測試檢修通(tong)道,相(xiang)當可使用(yong)于于利用(yong)外置PD 的形式(shi)在(zai)測試智(zhi)(zhi)能激光(guang)光(guang)效率;

PL 系列產(chan)品裝置能內容(rong)輸出(chu)以內那種(zhong)波形參數圖:波形參數圖的幅度過、步進電機(ji)值、單脈沖(chong)最(zui)大數等均可程控(kong)。

① 、整流恒流;

② 、直流(liu)電壓(ya)掃錨(mao)電壓(ya);

③ 、脈沖信號直流電壓功率;

④ 、單(dan)脈沖掃(sao)一掃(sao)電流(liu)值(zhi);

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利(li)用(yong)普(pu)賽斯PL 系(xi)例(li)窄智(zhi)(zhi)能機(ji)械(xie)(xie)行(xing)業脈(mo)沖LIV測(ce)(ce)評控(kong)(kong)制系(xi)統軟件來測(ce)(ce)評框圖(tu)有以下幾點(dian):主(zhu)耍有 PL 系(xi)例(li)主(zhu)設備、專門用(yong)連結線、測(ce)(ce)評板、兌(dui)(dui)換(huan)(huan)積(ji)(ji)分(fen)兌(dui)(dui)換(huan)(huan)規則球(qiu)、待測(ce)(ce)智(zhi)(zhi)能機(ji)械(xie)(xie)行(xing)業器(qi)、光吸(xi)(xi)收 PD 組成。 VCSEL 智(zhi)(zhi)能機(ji)械(xie)(xie)行(xing)業器(qi)大部分(fen)輸(shu)出精度(du)光電(dian)率(lv)比較大,而(er) PD 的(de)吸(xi)(xi)收電(dian)率(lv)較小,須要利(li)用(yong)兌(dui)(dui)換(huan)(huan)積(ji)(ji)分(fen)兌(dui)(dui)換(huan)(huan)規則器(qi)來光電(dian)率(lv)的(de)衰減(jian),同時兌(dui)(dui)換(huan)(huan)積(ji)(ji)分(fen)兌(dui)(dui)換(huan)(huan)規則球(qiu)的(de)反射層特點(dian)使智(zhi)(zhi)能機(ji)械(xie)(xie)行(xing)業器(qi)控(kong)(kong)制系(xi)統軟件對(dui)智(zhi)(zhi)能機(ji)械(xie)(xie)行(xing)業器(qi)光入射角并如果不是(shi)極為敏感脆弱。

儀器(qi)內(nei)容(rong)輸出(chu)的有下面有幾(ji)個訊號(hao):LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ,當中(zhong) LD+ 、 LD- 為恒流源內(nei)容(rong)輸出(chu)的激勵(li)員(yuan)工(gong)訊號(hao), S+ 、 S- 為待測電子元器(qi)件電壓降在線(xian)測量方(fang)法訊號(hao), PD+ 、 PD- 為外置 PD 在線(xian)測量方(fang)法訊號(hao)。

為(wei)保(bao)護訊號輸送(song)產品質量(liang),PL 產品機(ji)器設(she)備應該運(yun)行(xing)普賽斯制作的特異聯接線方法,互相從測試軟(ruan)件英文板到(dao)待測集成(cheng)電路(lu)芯片(pian)(pian)要否則(ze)提高連線,好隨(sui)便將集成(cheng)電路(lu)芯片(pian)(pian)電焊于測試軟(ruan)件英文板上或(huo)運(yun)行(xing) socket 。

為確(que)(que)認待測(ce)電(dian)子(zi)元功率(lv)器(qi)材(cai)輸出功率(lv)自動(dong)測(ce)量的(de)精確(que)(que)度性(xing),S+ 、 S- 是需要在待測(ce)電(dian)子(zi)元功率(lv)器(qi)材(cai)引(yin)屁股上(shang)短接(jie)至 LD+ 、 LD- ,請(qing)一律將 S+ 、 S- 銜(xian)接(jie)至待測(ce)電(dian)子(zi)元功率(lv)器(qi)材(cai)引(yin)屁股上(shang),一定要避(bi)免隨(sui)便在各種測(ce)試板上(shang)隨(sui)著短接(jie)。

 

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