靈活運用普賽斯國產化高gps計算表面粗糙度加數源表，搭配方法高gps計算表面粗糙度探頭臺，構造一臺體系設計晶圓等級的微光電子原料元器測定體系。接下企業以晶體管測定特征分析，向朋友介紹普賽斯這套極優實際效果的電特點測定統體系最主要的由兩臺分組名成，2臺S系列產品高gps計算表面粗糙度臺式機源表，1臺高gps計算表面粗糙度探頭臺。加數源表SMU是因此測定體系的體系化有些，消費者能夠 通過原料元器不一的感應電流、電阻值要求，安裝不一分度值的源表。因此的參數表設制、測定結果、線性等都將在普賽斯加數源表或串口通信APP上顯示。