
盛夏已過,初秋開場

不如先Fun松Fun松~

Step 1
推送用戶圈配詞“有獎活動”,如何設置所一些人所以,屏幕截圖保持;Step 2
參與互動并答對4題以上即可獲得小巧秀挺商務禮品每份(限于前20名)!未獲獎的朋友也可免費獲得《IGBT功率器件靜態參數測試白皮書》一份(電子版),并提供的技術醫生一副一聯系解決!

搞懂這幾個問題,輕松解決測試難題!
1、IGBT從硅(Si)到碳化硅(SiC),測試條件向高壓大功率轉變
SiC絕緣擊穿場強是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,飽和電子漂移速率是Si的2倍;與600V~900V的Si MOSFET 相比,SiC MOSFET能夠實現“高耐壓”、“低導通電阻”、“高頻”這三個特性。因此,高壓大功率的IGBT單管、半橋模塊,測試條件需要達到6500V/3000A。
2、掃描模式對閾值電壓漂移的影響
伴隨SiC與Si優點的各種,SiC MOSFET的閥值法法額定額定端電壓含有不保持穩定判定,在元件應力軟件測試英文時中閥值法法額定額定端電壓會產生特別漂移,導至其電性能指標應力軟件測試英文已經中高溫柵偏應力軟件測試后的電應力軟件測試英文報告嚴重性依耐于應力軟件測試英文狀況。往往閥值法法額定額定端電壓的更準確應力軟件測試英文,實施穩定可靠系數應力軟件測試英文的方法有:
3、脈寬和溫度對導通電阻的影響
導通電阻值 RDSon為的影響配件崗位時導通損耗率的一為重要特證叁數,其結果會隨 VGS 與T的轉變而提升。4、FIMV、FVMI 對測試的影響
限流保護性都可以將電壓直流電或者是直流電被限在SOA區域中,以免 元器件封裝損害或炸管。

5、等效電阻對導通壓降測試的影響
6、等效電感對導通壓降測試的影響
7、線路等效電容對測試的影響
參與互動獲得精美禮品

在線
咨詢
掃碼
下載